產(chǎn)品用途：

 

CST-50沖擊試樣缺口投影儀是根據(jù)GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口檢測要求而設(shè)計(jì)開發(fā)的，是用于檢測沖擊試樣缺口制作是否合格的重要設(shè)備。

利用光學(xué)投影的原理將被測的沖擊試樣U型和V型缺口與投影儀上的標(biāo)準(zhǔn)板圖進(jìn)行對比以確定被檢測的沖擊試樣加工是否合格，該設(shè)備操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是沖擊試樣加工過程中必備的檢測設(shè)備。